布鲁克手持光谱仪-手持式分析仪-X荧光光谱仪-铂悦仪器（上海）

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在线式X射线荧光分析仪 XMS
XMS是一款适用于工业自动化的在线式X射线荧光分析仪，具有快速数据采集和分析能力，能够帮助制造商优化工艺流程和提供产品质量。
手持式X荧光光谱仪
手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪.采用了布鲁克公司的SharpBeam®技术,并配置了布鲁克技术X-Flash®SDD探测器,向您提供快.....
科研手持XRF光谱仪TRACER 5g
TRACER 5g科研手持XRF光谱仪采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器，石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX
TXRF全反射X射线荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。
微区X射线荧光成像光谱仪PLUS
M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS是能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
便携台式xrf分析仪
便携式XRF分析仪适用于在实验室内外检测固体,粉末和液体.虽然手持式XRF轻便灵活,适合进行现场检测,但是,当需要对样品进行预备时;当样品为粉末,固体和液体等形态,存放在容器中时;当需要较长时间的检测.....

探针式轮廓仪Dektak XTL
探针式轮廓仪是一种用于化学,材料科学,电子与通信技术,化学工程领域的分析仪器.分析样品表面大尺寸三维形貌,探测样品厚度.它的双摄像头设置使空间感增强,其高水平自动化可生产量.
台阶仪-表面轮廓仪
德国布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å.使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二管.....
三维光学轮廓仪
表面轮廓仪用于加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。融合了表征、可定制选项和易用性等特点，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。
原子力显微镜Dimension Icon
原子力显微镜Dimension Icon是一款性能卓越、具备智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大样品台的原子力显微镜
光学轮廓仪ContourGT-X
布鲁克光学轮廓仪特性：业界标杆，大视场下高的垂直分辨率；从0.5x到200x不同放大倍率实现不同面型和织构表面的表征；硬件的优化设计进一步的仪器抗噪声能力、系统灵活性和测量稳定性
反射膜厚仪
反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
原子力显微镜Dimension FastScan
原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®分辨率的仪器性能前提下，解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

薄膜应力及基底翘曲测试设备
FSM128系列设备，装备有光学扫描系统。
薄膜应力及基底翘曲测试设备
FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性
布鲁克 Delta-X 多功能X射线衍射仪/反射仪 XRD
提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案
布鲁克 JV-QC3 高分辨率X射线衍射仪 XRD
JV-QC3 高分辨率X射线衍射仪是布鲁克半导体部门新推出的专为化合物半导体产业所设计的半导体生产质量控制设备。
硅片表面形貌测量
硅片表面形貌测量,材料表面形貌分析
晶圆厚度测量系统
FSM413回波探头传感器使用红外（IR）干涉测量技术。

I-V 曲线测试仪
PV200为光伏系统提供了一个测试及诊断解决方案
电荷灵敏前置放大器
CUBE（立方）是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器，借助外部电阻器，也可以以连续复位模式运行。
原子力显微镜探针/AFM探针
布鲁克AFM探针具有多种款式和型号，能够满足多种应用领域中的原子力显微镜（AFM）解决方案。
涂层测厚仪
涂层测厚仪应用范围广泛：它们是检查进货部门所交付材料的理想工具。
涂层测厚仪SURFIX®X系列
的测量仪器: 彩屏, PC 连接，易操作, 以及适合PHYNIX探头。
涂层测厚仪SURFIX®系列
用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀涂层的测量
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列适用于粗糙的环境及实验室中。