手持光谱仪-X荧光光谱仪-手持式分析仪-元素分析仪-铂悦仪器（上海）

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手持式X荧光光谱仪
手持式X荧光光谱仪S1 TITAN重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。
科研手持XRF光谱仪
TRACER 5g采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器，石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口
微区X射线荧光光谱仪
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
TXRF全反射X射线荧光光谱仪
快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。
微区X射线荧光成像光谱仪PLUS
M4 TORNADOPLUS是能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
便携台式xrf分析仪
便携式XRF分析仪适用于在实验室外检测固体、粉末和液体。
手持式土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等有害元素，能够实时对厂区、矿区、重工业区周.....

探针式轮廓仪系统
新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。
台阶仪-表面轮廓仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5Å。
光学轮廓仪
ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。
3D扫描仪 MICRON3D green
同时碳纤维结构的耐受能力强，适用于宽广的温度范围。
薄膜厚度
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离，而实际上，薄膜的表面是不平整，不连续的，且薄膜内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。
反射膜厚仪
反射光谱干涉法是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
Dimension FastScan
扫描速度快、分辨率高的的原子力显微镜Dimension FastScan