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更多产品 >>XMS是一款适用于工业自动化的在线式X射线荧光分析仪,具有快速数据采集和分析能力,能够帮助制造商优化工艺流程和提供产品质量。
能够快速而准确的完成元素定性/定量分析,适用于多种环境,包括合金分析、PMI材质分析,矿石成分分析、土壤重金属检测、RoHS 2.0检测,镀层测厚、化肥和动物饲料成分分析、锂电池以及废旧金属回收等各行.....
TRACER 5g科研手持XRF光谱仪采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器,石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
TXRF全反射X射线荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。
M4 TORNADO PLUS 微区X射线荧光成像光谱仪是能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
便携式XRF分析仪适用于在实验室内外检测固体,粉末和液体.虽然手持式XRF轻便灵活,适合进行现场检测,但是,当需要对样品进行预备时;当样品为粉末,固体和液体等形态,存放在容器中时;当需要较长时间的检测.....
能够实现严苛的纳米水平表面测量,提供更高的重复性和分辨率,不论是性能、易用性还是价格都更具有竞争力的探针式轮廓仪
表面轮廓仪用于加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。融合了表征、可定制选项和易用性等特点,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。
一款可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,适用于大规格晶圆和面板制造领域、QC(质量控制)/QA(质量保证)的探针式轮廓仪系统
原子力显微镜Dimension Icon是一款性能卓越、具备智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大样品台的原子力显微镜
布鲁克光学轮廓仪特性:业界标杆,大视场下高的垂直分辨率;从0.5x到200x不同放大倍率实现不同面型和织构表面的表征;硬件的优化设计进一步的仪器抗噪声能力、系统灵活性和测量稳定性
原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®分辨率的仪器性能前提下,解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
专为生物科学研究打造的具有更高性能与更高灵活性的生物型原子力显微镜NanoWizard® 4 XP BioScience
FSM128系列设备,装备有光学扫描系统。
FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性
提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案
JV-QC3 高分辨率X射线衍射仪是布鲁克半导体部门新推出的专为化合物半导体产业所设计的半导体生产质量控制设备。
硅片表面形貌测量,材料表面形貌分析
FSM413回波探头传感器使用红外(IR)干涉测量技术。
PV200为光伏系统提供了一个测试及诊断解决方案
CUBE(立方)是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器,借助外部电阻器,也可以以连续复位模式运行。
布鲁克AFM探针具有多种款式和型号,能够满足多种应用领域中的原子力显微镜(AFM)解决方案。
涂层测厚仪应用范围广泛:它们是检查进货部门所交付材料的理想工具。
的测量仪器: 彩屏, PC 连接,易操作, 以及适合PHYNIX探头。
用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀涂层的测量
涂层测厚仪SURFIX®简易系列 适用于粗糙的环境及实验室中。
行业应用
更多应用 >>快速材料成份分析
合金,贵金属,混凝土,镀层,地质矿石勘探分析,土壤检测,油品分析,食品安全检测,化妆品成分检测等野外现场分析测试
合金,贵金属检测,RoHs筛选,油品,三元催化,石灰石,土壤固废,环境检测,矿石勘探,艺术考古等材料成份分析(定性/定量)
冶金,铸造/锻造,汽车配件,废旧金属回收,机械制造,第三方检测机构,铁路/船舶,材料鉴定,材料成分检测技术文章
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2024-03-19限时限量 | 铂悦仪器二十周年大促(已结束)
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2023-05-23邀请函丨材料表面及元素分析论坛-2023年北京站
2023-05-08【展会预告】铂悦仪器诚邀您一同关注2023中国环博会 IE expo China
2023-04-19网络研讨会丨Micro XRF
2022-10-11Live Online Seminar:从矿石到金属看XRF, OES, CS/ONH元素分析技术如何助力现代金属采矿及生产
2022-09-28电话:86-021-37018108
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