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  • 手持式X荧光光谱仪 手持式X荧光光谱仪

    手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪.采用了布鲁克公司的SharpBeam®技术,并配置了布鲁克技术X-Flash®SDD探测器,向您提供快.....

  • 科研手持XRF光谱仪TRACER 5g 科研手持XRF光谱仪TRACER 5g

    TRACER 5g科研手持XRF光谱仪采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器,石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口

  • 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

    微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。

  • TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX

    TXRF全反射X射线荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。

  • 微区X射线荧光成像光谱仪PLUS 微区X射线荧光成像光谱仪PLUS

    M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS是能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。

  • 便携台式xrf分析仪 便携台式xrf分析仪

    便携式XRF分析仪适用于在实验室内外检测固体,粉末和液体.虽然手持式XRF轻便灵活,适合进行现场检测,但是,当需要对样品进行预备时;当样品为粉末,固体和液体等形态,存放在容器中时;当需要较长时间的检测.....

  • 手持式合金分析仪 手持式合金分析仪

    手持式合金分析仪是质量控制(QA/QC),材料分析(PMI),混料识别,废料分拣(Recycling),牌号识别(Grade ID)等领域中的检测设备小巧的设计,准确的测量精度,抵抗恶劣环境的能力,更.....

  • 探针式轮廓仪Dektak XTL 探针式轮廓仪Dektak XTL

    探针式轮廓仪是一种用于化学,材料科学,电子与通信技术,化学工程领域的分析仪器.分析样品表面大尺寸三维形貌,探测样品厚度.它的双摄像头设置使空间感增强,其高水平自动化可生产量.

  • 台阶仪-表面轮廓仪 台阶仪-表面轮廓仪

    德国布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å.使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二管.....

  • 三维光学轮廓仪 三维光学轮廓仪

    表面轮廓仪用于加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。融合了表征、可定制选项和易用性等特点,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。

  • 光学轮廓仪ContourGT-X 光学轮廓仪ContourGT-X

    布鲁克光学轮廓仪特性:业界标杆,大视场下高的垂直分辨率;从0.5x到200x不同放大倍率实现不同面型和织构表面的表征;硬件的优化设计进一步的仪器抗噪声能力、系统灵活性和测量稳定性

  • 反射膜厚仪 反射膜厚仪

    反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。

  • 原子力显微镜Dimension FastScan 原子力显微镜Dimension FastScan

    原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®分辨率的仪器性能前提下,解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

  • 摩擦磨损仪 摩擦磨损仪

    布鲁克UMT摩擦磨损仪由于其良好的兼容新和多模块化设计得到了市场。良好的设备兼容性设计理念,可以使一个样品在同一个实验设备上实现多种性能表征,大大节省了试验时间.模块化设计,轻松快速实现模块的更换。

  • I-V 曲线测试仪 I-V 曲线测试仪

    PV200为光伏系统提供了一个测试及诊断解决方案

  • 电荷灵敏前置放大器 电荷灵敏前置放大器

    CUBE(立方)是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器,借助外部电阻器,也可以以连续复位模式运行。

  • 原子力显微镜探针/AFM探针 原子力显微镜探针/AFM探针

    原子力显微镜探针(AFM探针)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器.在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域,逐渐发展成为重要的、多功能材的材料表征工

  • 涂层测厚仪 涂层测厚仪

    涂层测厚仪应用范围广泛:它们是检查进货部门所交付材料的理想工具。

  • 涂层测厚仪SURFIX®X系列 涂层测厚仪SURFIX®X系列

    的测量仪器: 彩屏, PC 连接,易操作, 以及适合PHYNIX探头。

  • 涂层测厚仪SURFIX®系列 涂层测厚仪SURFIX®系列

    用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀涂层的测量

  • 涂层测厚仪SURFIX®简易系列 涂层测厚仪SURFIX®简易系列

    涂层测厚仪SURFIX®简易系列 适用于粗糙的环境及实验室中。

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邀请函 | 2023年SNEC 第十六届(2023)国际太阳能光伏与智慧能源(上海)大会暨展览会 2023-05-23

2023年5月24日、25日 | 09:00-17:00,5月26日 | 09:00-14:00, 展会地点:上海新国际博览中心(SNIEC)(浦东.....

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