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  • 手持式X荧光光谱仪S1 TITAN	手持式X荧光光谱仪S1 TITAN

    手持式X荧光光谱仪S1 TITAN重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。

  • 科研手持XRF光谱仪TRACER 5g 科研手持XRF光谱仪TRACER 5g

    TRACER 5g科研手持XRF光谱仪采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器,石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口

  • 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

    微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。

  • TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX

    TXRF全反射X射线荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。

  • 微区X射线荧光成像光谱仪PLUS 微区X射线荧光成像光谱仪PLUS

    M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS是能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。

  • 便携台式xrf分析仪 便携台式xrf分析仪

    便携式XRF分析仪适用于在实验室外检测固体、粉末和液体。

  • 手持式合金分析仪S1 TITAN 手持式合金分析仪S1 TITAN

    手持式合金分析仪是质量控制(QA/QC)、材料分析(PMI)、混料识别、废料分拣(Recycling)、牌号识别(Grade ID)等领域中的检测设备。

  • 探针式轮廓仪Dektak XTL 探针式轮廓仪Dektak XTL

    新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。

  • 台阶仪-表面轮廓仪DEKTAK XT 台阶仪-表面轮廓仪DEKTAK XT

    德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。

  • 光学轮廓仪ContourGT-X 光学轮廓仪ContourGT-X

    ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。

  • 3D扫描仪 MICRON3D green 3D扫描仪 MICRON3D green

    MICRON3D扫描机的开发和完善花费了两年多的时间,让我们能够充分研究这种3D扫描仪的每个细节。我们的设计师根据扫描仪用户的调查问卷精心制定了3D扫描机的基本要求。

  • 薄膜厚度 薄膜厚度

    薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离,而实际上,薄膜的表面是不平整,不连续的,且薄膜内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。

  • 反射膜厚仪 反射膜厚仪

    反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。

  • Dimension FastScan Dimension FastScan

    扫描速度快、分辨率高的的原子力显微镜Dimension FastScan

  • I-V 曲线测试仪 I-V 曲线测试仪

    PV200为光伏系统提供了一个测试及诊断解决方案

  • 电荷灵敏前置放大器 电荷灵敏前置放大器

    CUBE(立方)是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器,借助外部电阻器,也可以以连续复位模式运行。

  • 原子力显微镜探针/AFM探针 原子力显微镜探针/AFM探针

    原子力显微镜探针(AFM探针),是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域,逐渐发展成为重要的、多功能材的材料表征工

  • 涂层测厚仪 涂层测厚仪

    涂层测厚仪应用范围广泛:它们是检查进货部门所交付材料的理想工具。

  • 涂层测厚仪SURFIX®X系列 涂层测厚仪SURFIX®X系列

    先进的测量仪器: 彩屏, PC 连接,易操作, 以及适合PHYNIX探头。

  • 涂层测厚仪SURFIX®系列 涂层测厚仪SURFIX®系列

    用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀涂层的测量

  • 紧凑式镀膜机 紧凑式镀膜机

    CCU-010 镀膜机提供两种款型。CCU- 010 LV低真空镀膜机,CCU- 010 HV 高真空镀膜机。

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