探针式轮廓仪Dektak XTL
探针式轮廓仪是一种用于化学,材料科学,电子与通信技术,化学工程领域的分析仪器.分析样品表面.....
台阶仪-表面轮廓仪DEKTAK XT
德国布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复.....
三维光学轮廓仪ContourX-200
表面轮廓仪用于加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。.....
光学轮廓仪ContourGT-X
ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。
反射膜厚仪
反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
反射膜厚仪
MProbe Vis薄膜测厚仪对大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
电话：86-021-37018108
传真：86-021-57656381
邮箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江区莘砖公路518号松江高科技园区28幢301室
