探针式轮廓仪系统
新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dekt.....
台阶仪-表面轮廓仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量.....
光学轮廓仪
ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。
3D扫描仪 MICRON3D green
MICRON3D扫描机的开发和完善花费了两年多的时间，让我们能够充分研究这种3D扫描仪的每.....
薄膜厚度
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离，而实际上，薄膜的表面是不平整，不连续的，且薄膜内部.....
反射膜厚仪
反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
电话：86-021-37018108
传真：86-021-57656381
邮箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江区莘砖公路518号松江高科技园区28幢301室
