探针式轮廓仪系统
新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dekt.....
3D扫描仪 MICRON3D green
同时碳纤维结构的耐受能力强，适用于宽广的温度范围。
台阶仪-表面轮廓仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量.....
薄膜厚度
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离，而实际上，薄膜的表面是不平整，不连续的，且薄膜内部.....
反射膜厚仪
反射光谱干涉法是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
反射膜厚仪
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
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