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台阶仪DEKTAK XT

品 牌:Bruker

产 地:德国

型 号:DEKTAK XT

关键词标签:探针式表面轮廓仪;Dektak XT;台阶仪
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       德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。
 

台阶仪Dektak XT能实现:
·  无可匹敌的性能,台阶高度重现性低于4埃
·  Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性
·  先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
·  新硬件配置使数据采集时间缩短40%
·  64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了10倍
·  频率空前,操作简易
·  直观的Vision64用户界面,操作简易
·  针尖自动校准系统,无与伦比的价值
·  布鲁克(Bruker)以实惠的配置实现zui高的性能
·  单传感器设计,提供单一平面上低作用和宽扫描范围

 

40多年不断创新
       建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第yi部薄膜测试仪,在第yi部基于微处理器的轮廓仪,和第yi部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第yi”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪,首部内置真彩高清光学摄像机,及安装64-bit并行处理架构已获得zui佳测量及操作效率的探针轮廓仪
       全球有超过一万台设备,品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时,人们就会借助Dektak。引进DektakXT,Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量

 

提高数据采集和分析速度
       利用独特的直接驱动扫描平台,Dektak XT减少了扫描间的时间,而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描(就探针轮廓仪而言,通常是耗时的)的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下,DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64,它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内zui有效的直观用户界面,简化了实验操作设置,自动完成多扫描模式,让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。

 

 

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