反射膜厚仪
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
贵金属检测
贵金属检测其分析方法是具有能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线,.....
TXRF全反射X射线荧光光谱仪S4 TSTAR
X射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值.....
纳米压痕仪/纳米力学测试系统 Hysitron TI 980
TI980是多样化的纳米力学表征工具，在纳米力学表征中提供高水平的优异性能、增强功能及多样.....
晶圆厚度测量系统
FSM413回波探头传感器使用具有红外（IR）干涉测量技术
反射膜厚仪
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
直读光谱仪
台式直读光谱仪是一款具备技术灵活性和操作便利性的火花直读光谱仪.采用通道光电倍增管技术,数.....
移动式微区XRF元素成像光谱仪 M6 JETSTREAM
高分辨率、快速成像、大面积微区XRF成像光谱仪
反射膜厚仪
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域
艺术与考古分析仪
TRACER 5i是Bruker公司2016年底发布的科研型手持式XRF设备，也称便携式X.....
轻便型直读光谱仪Q2 ION
Q2 ION是一款适合于金属材料分析的轻便型直读光谱仪
Line Card
电话：86-021-37018108
传真：86-021-57656381
邮箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江区莘砖公路518号松江高科技园区28幢301室
