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手持式X荧光光谱仪S1 TITAN重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管.....
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、.....
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X射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值.....
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薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离,而实际上,薄膜的表面是不平整,不连续的,且薄膜内部.....
新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dekt.....
同时碳纤维结构的耐受能力强,适用于宽广的温度范围。
贵金属检测其分析方法,是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X.....
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