白光干涉仪的作用，可以进行膜厚测量，沟槽测量，翘曲分析，表面粗糙度测量，表面高度及盲孔测量，样品表面图案尺寸测量等。广泛应用于半导体，光学器件，太阳能电池，MEMS，生命科学，材料学等行业。
Conductive AFM (cAFM) — 导电原子力显微镜（CAFM）是一种源自接触AFM的二次成像模式，它表征了中到低导电和半导体材料的导电率变化。CAFM的电流范围为pA至μA。
Bruker M4 Tornado 微区X射线荧光光谱仪是样品成分分析、成分分布规律研究的新利器。
布鲁克元素分析产品选型指南
是利用物质在火花激发下，检测器通过检测不同元素的特征谱线，而进行元素的定性与定量分析的。
地质矿石样品多种多样，手持式荧光光谱仪在应对不同的样品时有着不同的测试方法。
电话：86-021-37018108
传真：86-021-57656381
邮箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江区莘砖公路518号松江高科技园区28幢301室
