涂层测厚仪SURFIX®简易系列 适用于粗糙的环境及实验室中。
XRF分析仪,用10分钟即可完成1米沉积物样芯的扫描分析工作
硅片表面形貌测量VIT系列
FSM413回波探头传感器使用红外(IR)干涉测量技术。
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