X射线衍射仪XRD D8 DISCOVER
灵活、全能的XRD解决方案，可满足工业和学术界的研究、开发和质控要求。
红外干涉测量设备
红外干涉测量技术, 非接触式测量
薄膜应力和硅片翘曲检测仪
光学设计减少图形衬底对激光的干涉。
布鲁克 Delta-X 多功能X射线衍射仪/反射仪 XRD
提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案
布鲁克 JV-QC3 高分辨率X射线衍射仪 XRD
JV-QC3 高分辨率X射线衍射仪是布鲁克半导体部门新推出的专为化合物半导体产业所设计的半.....
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择
电话：86-021-37018108
传真：86-021-57656381
邮箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江区莘砖公路518号松江高科技园区28幢301室
