布鲁克BRUKER X射线衍射仪XRD

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER是一款具有更佳XRD性能的旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。

光子/mm²级别的高亮度X射线源，具有出色的亮度，如IµS微焦点X射线源和HB-TXS高亮度Turbo X射线源HB-TXS。外壳宽敞，可容纳直径为300 mm的大型样品，UMC样品台，可容纳5 kg重量的样品。

D8 DISCOVER适用的应用范围广泛，包括：定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析；X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析；残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）；总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）等。

D8 DISCOVER 特点 - 微焦源IµS

配备了MONTEL光学器件的IµS微焦源可提供高强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。

·        毫米大小的光束：高亮度和超低背景

·        绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长

·        MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度

·        与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。

D8 DISCOVER 特点 - UMC样品台

D8 DISCOVER提供了多种UMC平台，具有样品扫描和重量容纳能力，具备高度的模块化性能，可根据客户的要求进行选择或定制。

·        可对重达5 kg的样品进行扫描

·        大区域映射：300mm的样品

·        支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，可支持三个孔板。

D8 DISCOVER 特点 - 多模EIGER2 R检测器

EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。

·        先进的传感器设计，包括第二代革命性的EIGER：尺寸为75 x 75mm²的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。

·        符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。

·        全景光学器件和附件，视野开阔。

·        0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或扫描模式。

·        可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。

D8 DISCOVER 特点 - TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics

TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：

·        用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何

·        用于毛细管，GID和XRR分析的高强度平行光束Kα1,2几何

·        用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何

PATHFINDER Plus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：

·        电动狭缝：用于高通量测量

·        分光晶体：用于高分辨率测量

·        使用配备了TRIO和PATHFINDER Plus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。

D8 DISCOVER - 更多特点：

·        SNAP-LOCK - 更换光学器件时，无需工具，亦无需对光，因此您可轻松快速地更改配置。

·        TRlo optics - 安装在标准陶瓷X射线管的前面。可在多达6种不同的光束几何之间自动地进行电动切换，而无需人为干预。

·        D8测角仪 - D8测角仪具有优异的精确度，为布鲁克的准直保证奠定了基础。

·        UMC-1516 - UMC样品台在样品重量和大小方面具有强大的承载能力。

·        LYNXEYE XE-T - LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D数据采集，具有始终有效的出色能量鉴别能力，同时不会损失典型的二级单色器的信号。

·        Turbo X射线源（TXS）- 该X射线源具有高达6 kW的功率，其强度是标准陶瓷X射线管5倍，在线焦点和点焦点应用中均具有出色的性能。

·        MONTEL光学器件 - 这种X射线源可提供高亮度光束，是对mm大小的样品进行研究、或使用μm大小的光束进行微区X射线衍射研究的可靠选择。

·        TWIST-TUBE - 可在数秒内，轻松从线焦点切换到点焦点，从而更大程度地扩大了应用范围，同时更大限度地缩短了重新配置时间。

D8 DISCOVER 软件套装 - 使用DIFFRAC.SUITE进行规划、测量和分析

D8 DISCOVER支持使用多种软件和工具对数据进行测量和分析，并在材料研究、粉末分析或其他不同的数据测量方向有通用或专用的软件套装。

·        DIFFRAC.COMMANDER - 仪器控制、启动即时测量、执行预定义的方法和进行实时监控。

·        DIFFRAC.WIZARD - 使用图形界面的方式，引导用户制定基本测量方法和特殊测量方法。

·        DIFFRAC.EVA - 对1D和2D数据集进行分析，包括可视化、相识别基本统计和半定量分析。

材料研究分析

·        DIFFRAC.LEPTOS - 对收集的高分辨率和残余应力应用数据进行分析。

·        DIFFRAC.TEXTURE - 减少和分析织构数据以确定取向。

·        DIFFRAC.LEPTOS X – X射线衍射薄膜分析

粉末分析

·        DIFFRAC.TOPAS - 先进的XRPD数据拟合软件，用于定量和结构解决方案。

·        DIFFRAC.DQUANT - 使用基于标准的相关方法进行相定量。

·        DIFFRAC.SAXS - 对1D和2D小角X射线散射数据进行定性和定量分析。

D8 DISCOVER应用 – 软件应用

D8 DISCOVER适用于多种应用，包括：

·        残余应力分析：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法，用Cr辐射进行测量，对钢构件的残余应力进行分析。

·        使用了2D检测器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA，测定小区域结构特性。通过积分2D图像，进行1D扫描，来进行定性相分析和微观结构分析。

·        定性相分析：候选材料鉴别(PMI)更为常见，这是因为其对原子结构十分灵敏，而这无法通过元素分析技术实现。

·        高通量筛选（HTS）：在DIFFRAC.EVA中，进行半定量分析，以显示孔板上不同相的浓度。

·        非环境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中显示结果。

·        小角X射线散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，对EIGER2 R 500K通过2D模式收集的NIST SRM 80119nm金纳米颗粒进行粒度分析。

·        广角X射线散射（WAXS）：在DIFFRAC.EVA中，对塑料薄膜进行WAXS测量分析。然后塑料纤维的择优取向便显而易见了。

·        织构分析：在DIFFRAC.TEXTURE中，使用球谐函数和分量方法，生成极图、取向分布函数(ODF)和体积定量分析。

·        X射线反射率测量（XRR）：在DIFFRAC.LEPTOS中，对多层样品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度进行XRR分析。

·        高分辨率X射线衍射（HRXRD）：在DIFFRAC.LEPTOS中，对多层样品进行XRR分析，测定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶体浓度。

·        晶片与区域扫描：在DIFFRAC.LEPTOS中，进行晶片分析:分析晶片的层厚度和外延层浓度的均匀性。

·        倒易空间扫描：凭借RapidRSM技术，用户将能在更短的时间内，测量大面积的倒易空间。您可以在DIFFRAC.LEPTOS中，进行倒易点阵转换和分析。

D8 DISCOVER应用 - 薄膜分析

X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：

·        掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。

·        X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。

·        高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。

·        应力和织构（择优取向）分析。

D8 DISCOVER应用 - 材料研究

XRD可用于研究材料的结构和物理特性，并且是重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术领先的组件，可为用户带来更佳的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：

·        定性相分析和结构测定

·        微米应变和微晶尺寸分析

·        应力和织构分析

·        粒度和粒度分布测定

·        使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析

·        倒易空间扫描

D8 DISCOVER应用 - 筛选和大区域扫描

涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER将会是更好的解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER在电动位移和重量能力方面的表现变得更为可靠：

·        孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）

·        支持对长达300 mm的样品进行扫描

·        安装和扫描重量不超过5kg的样品

·        自动化接口

D8 DISCOVER应用 – 更多行业应用

汽车和航空航天

配备了UMC样品台的D8 DISCOVER的一大优势就是可以对大型机械零件进行残余应力和织构分析以及残余奥氏体或高温合金表征。

半导体和微电子

从过程开发到质量控制，D8 DISCOVER可以对亚毫米至300mm大小的样品进行结构表征

制药业筛选

新结构测定以及多晶筛选是药物开发的关键步骤，对此，D8 DISCOVER具有高通量筛选功能。

储能/电池

使用D8D，将能在原位循环条件下测试电池材料，直截了当地获取不断变化的储能材料的晶体结构和相组分方面的信息。

药物

从药物发现到药物生产，D8 DISCOVER为药品的整个生命周期提供着支持，其中包括结构测定、候选材料鉴别、配方定量和非环境稳定性测试。

地质学

D8 DISCOVER是地质构造研究的理想之选。借助μXRD，哪怕是对很小的包裹体进行定性相分析和结构测定也不在话下。

金属

在常见的金属样品检测技术中，残余奥氏体、残余应力和织构检测不过是其中的一小部分，检测目的在于确保产品符合终端用户的需求。

薄膜计量

从微米厚度的涂层到纳米厚度的外延膜的样品都受益于用于评估晶体质量、薄膜厚度、成分外延排列和应变松弛的一系列技术。