布鲁克BRUKER  X射线衍射XRD

D8 ADVANCE

D8 ADVANCE 是一款基于D8衍射仪系列平台的X射线衍射仪器，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选，能够轻松适应各种分析需求。设备具有更高的计数率、动态范围和能量分辨率，在几乎所有维度都具有非常优质的数据质量。

采用了开放式设计，并具有不受约束的模块化特性以及更好的用户友好性、操作便利性以及安全操作性，≤0.01°2Ɵ的峰位精度，为仪器的几何尺寸和波长提供整个角度范围内的对准保证。

面向未来的X射线衍射解决方案

D8 ADVANCE非常适合于X射线粉末衍射和散射应用，包括典型的X射线粉末衍射（XRD）、对分布函数（PDF）分析以及小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）等。

由于具有出色的适应能力，仅使用D8 ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。

无论是新手用户还是专家用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。

更重要的是，布鲁克公司能够为仪器的几何尺寸和波长提供整个角度范围内的对准保证。

TWIN / TWIN 光路

布鲁克的TWIN-TWIN光路设计有效简化了D8 ADVANCE的操作，使之能适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，能够在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的多种类型的样品进行分析。

动态光束优化（DBO）

布鲁克的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准，自动获取粉未数据。只需输入样品尺寸，DBO便会对马达驱动发散狭缝、防散射屏和探测器窗口进行动态调整。

马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供更优质的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

LYNXEYE XE-T探测器

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有更高的计数率和更佳的角分辨率，是X射线衍射和散射应用的理想选择。就0D、1D和2D数据采集而言，LYNXEYE XE-T具有出色且始终有效的能量鉴别能力，同时也不存在典型的二级单色器的信号损失。

LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，是市面上性能卓越的荧光过滤器探测器系统。借助它，用户可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余Kß和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。

布鲁克提供LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！

更多的特点和优势

·        DAVINCI设计：高精度的快速锁扣机制、光学器件采用三点支撑安装，加上具有组件识别功能的ID芯片，因此具有失效保护和组件更换时免于光路对准的优点。

·        TRIO光路与TWIN光路：可在多达6种不同的光束几何间自动进行切换，无需人为干预。

·        EIGER2 R 探测器：具有全景索拉狭缝组件和真空传输管道，用于0D、1D和2D数据采集

·        合规实验室的解决方案：符合cGAMP、21CFR Part11和EU Annex11的解决方案以及设备认证服务。

·        仪器质量与数据质量：提供仪器准直保证，确保整个系统(并非仅是单个组件)都符合《仪器性能验证手册》所述的高标准。

D8 ADVANCE应用 - 粉末衍射

X射线粉末衍射（XRPD）技术是重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下，您将能简单地实施常见的XRPD方法：

·  鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度

·  对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析

·  微观结构分析（微晶尺寸、微应变、无序…）

·  热处理或加工制造组件产生的大量残余应力

·  织构（择优取向）分析

·  指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修

D8 ADVANCE应用 - 对分布函数分析

对分布函数（PDF）分析是一种分析技术，它基于Bragg以及漫散射（“总散射”），提供无序材料的结构信息。其中，您可以通过Bragg衍射峰，了解材料的平均晶体结构的信息（即长程有序），通过漫散射，表征其局部结构（即短程有序）。

就分析速度、数据质量以及对非晶、弱晶型、纳米晶或纳米结构材料的分析结果而言，D8 ADVANCE和TOPAS软件代表了市面上性能更佳的PDF分析解决方案：

·  相鉴定

·  结构测定和精修

·  纳米粒度和形状

D8 ADVANCE应用 - 薄膜和涂层

薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同，不过进一步提供了光束调节和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鉴定、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时，着重对厚度在nm和µm之间的层状材料进行特性分析（从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜）。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析：

·  掠入射衍射

·  X射线反射法

·  高分辨率X射线衍射

·  倒易空间扫描

D8 ADVANCE应用 – 应用范围

相鉴定：材料可靠性鉴别(PMI)更为常见，这是因为其对原子结构十分灵敏，而这无法通过元素分析技术实现。

定量相分析：方法包括EVA软件半定量分析、DQUANT软件面积法分析和DIFFRACTOPAS软件全谱拟合分析法。

配对分布函数生成和完善：DIFFRAC.TOPAS 整合了独特的 PDF 生成和细化方法，是真正的“原始数据到 PDF 细化 ”解决方案。

非环境XRD：可以在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中显示结果。

织构分析：在DIFFRAC.TEXTURE软件中，使用球谐函数和组分分析方法，生成极图、取向分布函数(ODF)和体积定量分析。

残余应力分析：在DIFFRAC.LEPTOS中分析钢部件的残余应力，通过sin2psi方法，使用Cr辐射测量得到。

X射线反射法（XRR）：在DIFFRAC.LEPTOS中，对多层样品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度进行XRR分析

小角X射线散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，对EIGER2 R500K通过2D模式收集的NIST 标样SRM 80119nm金纳米颗粒进行粒度分析。

相鉴定 & 残余应力分析

D8 ADVANCE应用 – 行业应用

·        金属行业

在金属样品中，残余奥氏体、残余应力和织构检测是其中常见的检测项目，检测目的在于确保产品符合用户的需求。

·        薄膜计量

从微米厚度的涂层到纳米厚度的外延膜的样品，都受益于用于评估晶体质量、薄膜厚度、成分外延排列和应变松弛的一系列技术。

·        建筑材料

从原材料到质控，XRD在确保目标产品(包括熟料分析和反应监控)高产方面发挥着关键作用。

·        药物行业

从药物发现到药物生产，D8ADVANCE为药品的整个生命周期提供着支持，其中包括结构测定、材料可靠鉴别、配方定量和非环境稳定性测试。

·        化工制品/颜料

这些行业通常需要对大量工业材料进行新结构的测定或混合物的定量分析，这其中包括对主要相组分和次要相组分的分析。

·        储能/电池

利用D8 ADVANCE，可以在原位循环条件下测试电池材料，从而可以直观地获取储能材料在晶体结构和相组分方面的不断变化过程。