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X射线镀层测厚仪

更新时间:2020-08-17

产品品牌:Bruker

产品产地:

产品型号:M1 ORA

产品描述:M1 ORA是适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF),结构紧凑、占用空间小。

M1 ORA是适用于珠宝行业的台式X射线镀层测厚仪,结构紧凑、占用空间小。

M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的元素。
上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析,数分钟内就可以得到结果。

样品尺寸大可达100×100×100mm,无需处理,直接放在样品台上检测,采用光学显微镜进行准确定位。

采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多,分析结果越准确。可以检测含量在0.5%的元素

基于标样模型或无标样模型,可以鉴别和定量分析样品中的元素。准确度高,达到0.2wt%对于没有预想到的元素也能够进行分析。

珠宝、黄金、贵金属分析

X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析,同时能够得到高准确度测试结果的分析方法

由于珠宝首饰件通常都非常的小,又有些是采用不同贵金属组合,X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点。

行业应用:

X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列,可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素

黄金成分范围35%(8克拉/K)~(24克拉/K)

适用于:白金、黄金、铂合金、银合金,分析精度优于0.2%

 

 

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