聚焦 X 射线分析前沿 赋能材料微纳表征 

上海光机所光学表征与检测中心联合布鲁克、铂悦仪器成功举办技术交流会

       8 月 25 日，中国科学院上海光学精密机械研究所光学表征与检测中心（以下简称 "上海光机所检测中心"）联合德国布鲁克（Bruker）AXS 与铂悦仪器（上海）有限公司，在上海光机所成功举办 X 射线分析技术交流会。会议围绕微区 X 射线荧光、三维 X 射线显微成像及材料微纳结构表征等前沿技术展开专题研讨，为提升检测水平和更好制定材料检测方案，聚焦材料成分、结构、物相微纳检测技术发展和应用前沿，开展学术交流。感谢来自所内、外多个科研团队的相关科研领域的科研人员和技术骨干到场交流。

       上午 9 时，交流会拉开帷幕。上海光机所光学表征与检测中心刘松老师致欢迎词，介绍中心概况与本次会议背景。会议期间，来自布鲁克 AXS 与铂悦仪器的应用专家先后作专题报告，并现场针对具体应用开展讨论：

结构与元素分析，一览 Bruker AXS 产品与技术全貌

       布鲁克 AXS XMP 销售应用经理 王洋作开场报告，系统梳理了 Bruker AXS 在 X 射线分析领域的产品布局，以及其在材料研发与质量检测中的典型应用。

微区 X 射线荧光成像，解锁 "看得见" 的元素世界

       铂悦仪器（上海）有限公司应用专家 武媛媛分享了微区 X 射线荧光成像光谱仪 M4 的技术应用。该设备具备微米级空间分辨率与快速元素成像能力，可在无需复杂制样的前提下，对电子元器件、地质样品、镀层材料等进行元素分布快速分析，为材料研究提供了直观高效的表征手段。

多尺度三维 X 射线显微镜，透视材料内部结构

       布鲁克 AXS 王金波博士介绍了多尺度三维 X 射线显微镜的前沿技术与应用，展示了 X 射线显微 CT 在无损、三维可视化表征方面的独特优势，为复杂样品内部结构的跨尺度研究提供了新思路。

能谱与取向分析进阶，直击微纳结构表征难点

       布鲁克 AXS 陈剑峰博士围绕平插式能谱仪与直接电子探测 EBSD 在材料微纳结构表征中的应用展开讲解，为材料的相鉴定、晶体学取向及微观组织分析提供了高效解决方案。

       除专题报告外，本次活动还设置了现场测样环节，为所内外相关部门提供的氧化硅-氧化铝薄膜、钇镁复相陶瓷、硼酸锶陶瓷、掺铁硼酸锶陶瓷、铝酸钙钆钇陶瓷、氟化钡镁晶体、氟化钡晶体、岩石，以及古代宝石和硅酸盐玻璃等多种材料进行现场检测与交流互动。检测结果，对材料表征和制备过程中的关键问题提供了重要科学依据：如揭示薄膜制备过程中的污染因素、多层膜界面元素分布特征，陶瓷与合成晶体的致密性、掺杂均匀性及杂质污染等，这些数据为深入理解材料的性能、进一步优化材料制作工艺提供了有力支撑和量化参考。

       将理论分享与实际应用紧密结合，获得与会者一致好评。本次交流会的成功举办，进一步深化了科研院所与仪器企业之间的产学研合作，为先进 X 射线分析技术在光学材料、激光材料及关键元器件等领域的检测表征应用搭建了良好平台。

       上海光机所光学表征检测中心成立于2016年12月30日。以国家重大专项检测需求为牵引，开展检测技术研究、检测方法研究、提供标准化检测服务。具备各类定量化检测设备，检测能力覆盖光学材料特性、激光材料激光特性、光学元器件全频谱面形、光谱、缺陷以及损伤特性检测及材料表征能力等。

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