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X荧光光谱仪的测试步骤有三,分别是?

发布时间:2020-10-19浏览:39

  X荧光光谱仪是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

  X荧光光谱仪技术的主要特征为:
  利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;
  采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:
  利用解谱技术使谱峰分解,使分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

  使用寿命的技术:
  (1)、光管自动老化功能;
  (2)、自动跟进不同材质选择不同的光管电流;
  (3)、强大的散热系统保证光管正常的工作条件;
  模块化的功能设计理念便于应对指令进行、检测元素内容的升;*更为精巧的工艺,实现小体积样品的检测;
  全光路射线防护系統配合三重安全防护设计,同时采用软硬件双重安全连锁,保辐射安全性能。

  X荧光光谱仪的测试步骤:
  (1)选择分析方法与制样方法。分析方法一般有基本参数法、半基本参数法、经验系数法等,制样方法一般有抛光法、压片法、滤纸片法和熔片法,常用粉末压片法制样,采用基本参数法测试。

  (2)将制备好的样片装进样品杯,放入样品交换器中,自动进样至样品室,X射线管发出原级X射线照射样品,激发出待测元素的荧光X射线。

  (3)样品辐射出的荧光X射线通过分光晶体,将X射线荧光光谱色散成孤立的单色分析线,由探测器测量各谱线的强度,根据选用的分析方法换算成元素浓度,得到样品中待测元素含量。

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